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TLP的用途 TLP是指傳輸線脈沖。當同軸電纜中的電荷放電時，會產生矩形波形。我們可以利用這種現象來檢查半導體的保護電路特性。重要因素是矩形波形的上升時間。保護電路特性取決于矩形波形的上升時間較快或較慢。因此，將上升時間從高頻更改為低頻非常重要。TLP測試儀需要小于200 [ps]的上升時間作為理想波形。

系統簡介：

南京芯測提供半導體設備所需的ESD（靜電擊穿）測試系統解決方案。現在我們帶你簡單了解下TLP測試。TLP（傳輸線脈沖）測量是向晶體管或集成電路施加脈沖，并獲取有關ESD保護元件或ESD保護電路的電壓（V）/電流（I）特性的數據。在集成電路的ESD保護設計中，了解具有短時間常數（例如ESD浪涌）的脈沖波，被保護元件或被保護元件可以承受的IV特性以及多少電流。那很重要。即使正常的直流測量導致熱破壞，使用TLP器件進行測量也不太可能引起熱破壞，并且有可能確認和獲取大電流區域（?10A）的特性。此外，通過在實際集成電路中使用TLP測量，它不僅可以用作ESD保護設計，還可以用作由ESD引起的缺陷的分析工具。