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該系統搭載了南京芯測探針臺系統，是一套卓越的微光顯微成像系統，通過使用探測器探測電路發出的微光子和激光刺激引起回路電信號變化來定位電路的失效點并通過圖像的方式呈現出來。

• 通過NIR紅外線偏光顯微鏡對芯片進行BACK SIDE穿透分析

• 正面及背面光子發光偵測功能

• 滿足Si CMOS,GaAs pHEMT、等失效芯片的漏電檢測。